介質(zhì)損耗測(cè)試儀也稱(chēng)為抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀，采用變頻zhi電源技術(shù)，利用單片機(jī)和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算，自動(dòng)化，智能化，測(cè)量數(shù)據(jù)在強(qiáng)干擾條件下是穩(wěn)定的，但測(cè)試數(shù)據(jù)在使用中顯然是不合理的通常如下。

       在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)，用鉤桿對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，吊鉤須與試驗(yàn)產(chǎn)品良好接觸，否則接觸件的排放會(huì)引起嚴(yán)重的數(shù)據(jù)波動(dòng)，特別是在過(guò)厚的氧化層或空氣管擺動(dòng)的排水管中導(dǎo)致接觸不良。

       接地不良也會(huì)引起儀表保護(hù)數(shù)據(jù)的嚴(yán)重波動(dòng)，接地點(diǎn)的涂層應(yīng)報(bào)廢，零電阻接地。

       用端蓋法測(cè)量電磁式PT時(shí)，由水分引起的T形網(wǎng)絡(luò)干擾引起的負(fù)介電損耗可以用常規(guī)法或端壓法測(cè)量，直接測(cè)量CVT的低耦合電容會(huì)導(dǎo)致負(fù)的介電損耗，因此應(yīng)采用自激法。

       由于長(zhǎng)期使用，容易造成試驗(yàn)線(xiàn)隱性短路，芯線(xiàn)屏蔽層短路或與插頭接觸不良，用戶(hù)應(yīng)始終維護(hù)測(cè)試線(xiàn)。當(dāng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容器測(cè)試產(chǎn)品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭來(lái)消除額外雜散電容的影響，否則，介質(zhì)損耗測(cè)試儀的精度就無(wú)法反映出來(lái)。自勵(lì)方法是測(cè)量VT中的C，非高壓線(xiàn)路應(yīng)暫停，否則，附加的雜散電容和介質(zhì)損耗會(huì)導(dǎo)致地面測(cè)量誤差。

       使用萬(wàn)用表測(cè)量測(cè)試電路是否開(kāi)路，或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路，輸入功率過(guò)高或過(guò)低，接地良好，使用正極或負(fù)極導(dǎo)線(xiàn)測(cè)量具有已知電容和介質(zhì)損耗的標(biāo)準(zhǔn)電容器或電容器樣品，如果結(jié)果正確，則可判斷儀器故障。